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    芯片反向設(shè)計(jì)的流程圖整理
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  •   發(fā)布日期: 2018-09-19  瀏覽次數(shù): 2,131

    什么是芯片反向設(shè)計(jì)?它是通過對(duì)芯片內(nèi)部電路的提取與分析、整理,實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片技術(shù)原理、設(shè)計(jì)思路、工藝制造、結(jié)構(gòu)機(jī)制等方面的深入洞悉,可用來驗(yàn)證設(shè)計(jì)框架或者分析信息流在技術(shù)上的問題,也可以助力新的芯片設(shè)計(jì)或者產(chǎn)品設(shè)計(jì)方案。

     

    芯片反向工程的意義:現(xiàn)代IC產(chǎn)業(yè)的市場競爭十分激烈,所有產(chǎn)品都是日新月異,使得各IC設(shè)計(jì)公司必須不斷研發(fā)新產(chǎn)品,維持自身企業(yè)的競爭力。IC設(shè)計(jì)公司常常要根據(jù)市場需求進(jìn)入一個(gè)全然陌生的應(yīng)用和技術(shù)領(lǐng)域,這是一件高風(fēng)險(xiǎn)的投資行為。并且及時(shí)了解同類競爭對(duì)手芯片的成本和技術(shù)優(yōu)勢成為必然的工作。如果讓工程師在最短的時(shí)間以最有效率的方式設(shè)計(jì)電路才是最難解決的問題,逆向工程看來是其中一個(gè)解決方案。逆向工程能將整顆IC從封裝,制成到線路布局,使用將內(nèi)部結(jié)構(gòu),尺寸,材料,制成與步驟一一還原,并能通過電路提取將電路布局還原成電路設(shè)計(jì)。

    目前,國外集成電路設(shè)計(jì)已經(jīng)非常成熟,國外最新工藝已經(jīng)達(dá)到10nm,而國內(nèi)才正處于發(fā)展期,最新工藝達(dá)到了28nm。有關(guān)于集成電路的發(fā)展就不說了,網(wǎng)絡(luò)上有的是資料。對(duì)于IC設(shè)計(jì)師而言,理清楚IC設(shè)計(jì)的整個(gè)流程對(duì)于IC設(shè)計(jì)是非常有幫助的。然而,網(wǎng)絡(luò)上似乎并沒有有關(guān)于IC設(shè)計(jì)整個(gè)流程的稍微詳細(xì)一點(diǎn)的介紹,僅僅只是概略性的說分為設(shè)計(jì)、制造、測試、封裝等四大主要板塊,有的資料介紹又顯得比較分散,只是單獨(dú)講某個(gè)細(xì)節(jié),有的只是講某個(gè)工具軟件的使用卻又并不知道該軟件用于哪個(gè)流程之中,而且每個(gè)流程可能使用到的工具軟件也不是太清楚(此觀點(diǎn)僅為個(gè)人經(jīng)歷所得出的結(jié)論,并不一定真是這樣)。

    芯片正向設(shè)計(jì)與反向設(shè)計(jì)。目前國際上的幾個(gè)大的設(shè)計(jì)公司都是以正向設(shè)計(jì)為主,反向設(shè)計(jì)只是用于檢查別家公司是否抄襲。當(dāng)然,芯片反向工程原本的目的也是為了防止芯片被抄襲的,但后來演變?yōu)樾」緸榱烁旄〕杀镜脑O(shè)計(jì)出芯片而采取的一種方案。目前國內(nèi)逐漸往正向設(shè)計(jì)轉(zhuǎn)變的公司也越來越多,正逐漸擺脫對(duì)反向設(shè)計(jì)的依賴。當(dāng)然,正處于發(fā)展初期的公司也不少,自然反向設(shè)計(jì)也是不少的。本文章從芯片反向設(shè)計(jì)開始進(jìn)行總結(jié)。“工欲善其事,必先利其器”。隨著集成電路的不斷發(fā)展,不管是芯片正向設(shè)計(jì)還是反向設(shè)計(jì),它們對(duì)于工具的依賴性越來越強(qiáng),因此,在要開始講設(shè)計(jì)流程之前,先來看一看,我們到底會(huì)用到哪些主要的工具和輔助性的軟件。

    主要工具軟件說到設(shè)計(jì)工具,就不能不提到三大EDA廠商——cadence,synopsys,mentor。這三家公司的軟件涵蓋了芯片設(shè)計(jì)流程的幾乎所有所能用到的工具。首先是cadence公司,這家公司最重要的IC設(shè)計(jì)工具主要有candence IC系列,包含了IC 5141(目前最新版本是IC617),NC_VERILOG(verilog仿真),SPECTRE(模擬仿真),ENCOUNTER(自動(dòng)布局布線)等等synopsys公司,最出名的是它的綜合工具design complier,時(shí)序分析工具prime time,模擬仿真工具h(yuǎn)spice等;mentor公司最出名的工具是calibre(版圖DRC LVS檢查),modelsim(verilog仿真)。這些都是IC設(shè)計(jì)最常用的工具,無論是正向設(shè)計(jì)還是反向設(shè)計(jì)。當(dāng)然,隨著軟件版本的更新迭代,軟件的名字可能有所變更,并不是上述的那些名稱。另外,這些工具主要集中在以linux為內(nèi)核的操作系統(tǒng)上,主要代表有Red Hat。所以有關(guān)unix\linux類操作系統(tǒng)的知識(shí)還是有必要學(xué)的,該類系統(tǒng)與windows系統(tǒng)有很大的不同,要想學(xué)會(huì)使用這些軟件,首先要學(xué)習(xí)這些操作系統(tǒng)的相關(guān)知識(shí),具體資料網(wǎng)上有很多。部分工具有windows版本,例如hspice,Modelsim。

    輔助類工具軟件當(dāng)然,除了這三大EDA廠商的IC設(shè)計(jì)工具外,Altera 、Xilinx、KeilSoftware這三家公司的軟件quartus ii、ISE、KEIL開發(fā)環(huán)境等,都是對(duì)于IC設(shè)計(jì)流程中比不可少的工具。它們分別是用于FPGA、單片機(jī)ARM芯片的開發(fā)。這類軟件在芯片的CP測試和芯片應(yīng)用方案開發(fā)上會(huì)有用到。版圖提取工具,NetEditorLite、ChipAnalyzer,這兩個(gè)工具主要是針對(duì)芯片反向設(shè)計(jì)而言的。算法設(shè)計(jì)工具,MATLAB,此工具應(yīng)用范圍很廣,但對(duì)于芯片設(shè)計(jì)來說,它較為適用于算法原型開發(fā),例如,通信算法。PCB版圖工具,Altium Designer,Orcad,Allegro。其中,目前Orcad,Allegro是屬于cadence電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)套件內(nèi)的主要軟件,而Altium Designer是最常用的軟件,它的前身是Protel。Labview與數(shù)字源表,這一對(duì)軟硬件主要用于芯片電氣參數(shù)的半自動(dòng)化測試,特別是模擬芯片。其目的是芯片設(shè)計(jì)公司用于分析芯片樣品參數(shù)用。對(duì)于這些工具的該如何使用,我會(huì)在下面的文章中進(jìn)行說明。ps:沒有具體說明軟件使用環(huán)境的,一般是在windows環(huán)境下使用。先從反向設(shè)計(jì)說起。下面是我整理的芯片反向設(shè)計(jì)的流程圖。

    一、反向設(shè)計(jì)總體規(guī)劃在進(jìn)行一塊新品芯片的開發(fā)前期必須要有一個(gè)設(shè)計(jì)總體規(guī)劃,其中最主要的問題就是,這顆芯片是否能帶來收益,畢竟公司要靠產(chǎn)品吃飯。如何評(píng)估芯片能否帶來收益?這需要多年的經(jīng)驗(yàn)才能進(jìn)行準(zhǔn)確的評(píng)估。一般是看市場上哪幾款芯片銷量好,并且未來幾年的銷量看漲,并且評(píng)估本公司是否有能力設(shè)計(jì)并且有渠道銷售出去。要考慮的芯片成本有以下幾項(xiàng):1,芯片拍片成本;2,芯片從立項(xiàng)到交貨的時(shí)間成本,時(shí)間過程導(dǎo)致芯片即使設(shè)計(jì)出來了,市場已經(jīng)不需要了;3,流片成本;4,工具軟件的授權(quán)使用成本;5,測試成本,包括CP測試和成品測試以及搭建測試平臺(tái)所需要的其它成本;6,封裝成本。將這些成本進(jìn)行適當(dāng)預(yù)估之后,再來看收益。對(duì)于收益這塊,這是和市場的需求和銷量走向有關(guān),需要涉及到許多其他方面的考慮。在收益問題解決了之后,明確此項(xiàng)目可以獲得收益,那么就可以正式開工,前面說的一堆東西其實(shí)就是項(xiàng)目可行性分析的一部分。但其實(shí)有些公司并不會(huì)考慮那么多,因?yàn)檫@些可行性分析本身非常困難。反向哪一家的芯片?選擇大公司的芯片進(jìn)行反向一般來說成功率會(huì)更高。選定芯片后就進(jìn)行拍片了,芯片進(jìn)行解剖拍片一般周期在1周到1個(gè)月之間,這視芯片的大小而定。

    二、工藝選擇這個(gè)要依據(jù)拍片回來的芯片版圖來決定,通過對(duì)芯片版圖的識(shí)別,判斷待反向的芯片版圖使用的工藝是什么,再根據(jù)公司自己擁有的工藝文件(這些工藝文件都由國內(nèi)或者國外的芯片制造廠提供,前提是公司得與它們合作才能得到工藝文件),兩者進(jìn)行比對(duì),選擇一個(gè)適合的工藝進(jìn)行后續(xù)的仿真、版圖繪制和流片。工藝選擇的問題,需要對(duì)公司所擁有的工藝非常熟悉,并且對(duì)版圖也要熟悉的工程師來解決,他要能夠通過版圖明確的識(shí)別所用的工藝。當(dāng)然,工藝有時(shí)候會(huì)在設(shè)計(jì)過程中反復(fù)的更換,因?yàn)闀?huì)有許多參數(shù)、流片成功率等各種復(fù)雜因素的考量。這一步其實(shí)也就叫工藝可行性分析,其實(shí)也應(yīng)該歸于項(xiàng)目可行性分析的一部分,但是由于必須要拍片才能進(jìn)行,所以只能單獨(dú)說明。

    三、版圖提取在上一步工藝可行性分析完之后,確認(rèn)有工藝可以和該版圖匹配,那么就可以進(jìn)行版圖提取工作。這部分的工作其實(shí)主要是識(shí)別版圖中的管子并用符號(hào)表示出來。所用到工具有NetEditorLite或者ChipAnalyzer,這是版圖提取工具,在不同的公司進(jìn)行芯片拍片,會(huì)用到不同的版圖提取工具。該類軟件的作用就是一個(gè)圖片查看器,拍攝的版圖就是數(shù)據(jù)就是照片。cadence IC5141 里的virtuoso schematic軟件,這是電路圖繪制軟件。整個(gè)工作的流程是用NetEditorLite或者ChipAnalyzer打開拍片的芯片版圖數(shù)據(jù),人工肉眼識(shí)別里面的管子(二極管、三極管、MOS管之類),再使用virtuoso schematic將管子用符號(hào)表示出來,并把管子之間的連接關(guān)系連接上。版圖提取所要注意的問題:初次進(jìn)行版圖提圖,可能會(huì)不認(rèn)識(shí)管子,需要有經(jīng)驗(yàn)的人來幫助識(shí)別,熟悉之后就容易了;不同工藝的版圖管子的形狀是不一樣的,所以碰到不認(rèn)識(shí)的管子,要么靠別人幫忙,要么就只能自己去推理;要有良好的管子命名習(xí)慣,這個(gè)每個(gè)公司都應(yīng)該有規(guī)定的,這對(duì)于后續(xù)的工作會(huì)有很大幫助;盡量按照版圖的布局來放置管子的布局(在virtuoso schematic上的電路圖布局),這樣可以加快以后對(duì)比電路圖和版圖時(shí)找管子的速度;在整理提取出的電路時(shí)一定要新建一個(gè)電路圖來放置整理的電路,不要在剛提取的電路圖上整理,方便整理時(shí)和版圖數(shù)據(jù)對(duì)比。

    四、電路整理在版圖提取完畢之后,下一個(gè)步驟就是電路整理。提取完的電路圖是混亂的,沒有層次關(guān)系。那么如何將其整理成具有層次關(guān)系,讓人一看就懂呢?1、這就涉及到有關(guān)芯片的一些常識(shí)了。芯片分為數(shù)字芯片和模擬芯片,但是數(shù)字芯片必定會(huì)包含模擬電路,而模擬芯片卻可以不包含數(shù)字電路。它們有如下一般特征:A、數(shù)字芯片,必有時(shí)鐘振蕩電路、復(fù)位電路這些模擬電路。必有寄存器,而且整個(gè)數(shù)字部分最耗面積的部分往往都是寄存器。寄存器的使用量是很大的,因此,在版圖上呈現(xiàn)的就是有大數(shù)量的圖像一模一樣的電路,這種電路往往都是寄存器。B、模擬芯片,有帶隙基準(zhǔn)電路。2、說完了芯片版圖常識(shí),另外一個(gè)重要的有助于理解所提取的電路的工具就是待反向的芯片的數(shù)據(jù)手冊!這是最重要的,我們所有有關(guān)于芯片的信息都是從數(shù)據(jù)手冊上得來的。所以一定要善用DATASHEET!在芯片數(shù)據(jù)手冊上,一般會(huì)對(duì)芯片的功能進(jìn)行說明,對(duì)芯片如何運(yùn)行進(jìn)行說明,這些說明將有助于我們對(duì)于電路的整理。比如說,芯片手冊上說道用了I2C,那么電路中肯定有一大塊電路是屬于I2C的。一般來說,版圖的布局都是將同屬于一種功能的管子會(huì)集中放置在一起。I2C電路的特征,從I2C協(xié)議的原理上可以知道,它就兩根信號(hào)線,一根時(shí)鐘,另一根數(shù)據(jù)線。數(shù)據(jù)在芯片內(nèi)部一般是并行傳輸比較方便,所以,I2C電路一定會(huì)有串并轉(zhuǎn)換電路,而串并轉(zhuǎn)換電路一般是寄存器,而且一般是8位。根據(jù)這個(gè)推斷結(jié)果,就在提取的電路中去尋找8個(gè)在一起的寄存器,它們其中一組就是I2C電路的一部分,再根據(jù)芯片版圖的I2C PAD位去尋找,看連接到了那一組寄存器上,那么整個(gè)I2C的電路就被識(shí)別出來了。因此,a、靠著芯片手冊對(duì)芯片功能的說明,b、加上芯片的一些常識(shí)性知識(shí),c、加個(gè)人的這種對(duì)電路原理的推理,就可以相對(duì)較快的將電路分層次的整理出來。逐步的理解整個(gè)芯片的原理。當(dāng)然,由于芯片電路的龐大的關(guān)系,有時(shí)候電路并不是需要完全理清楚,對(duì)于不那么重要的電路可以不理會(huì)。只要保證連接關(guān)系沒連接錯(cuò)就行。這階段,只會(huì)用到cadence ic5141的virtuoso schematic軟件。

    五、 電路仿真及修改電路整理好了,下一步就是進(jìn)行電路的仿真及修改了,根據(jù)工藝選擇步驟選擇的工藝來進(jìn)行。先說明一下這階段所使用的工具:1、cadence spectre,一般集成在cadence ic5141里面,是模擬電路仿真工具(ps:最原始的版本是集成在IC5141內(nèi)部,但功能不全,所以需要單獨(dú)安裝新版本,軟件名為MMSIM61,隨著版本的升級(jí),它的名字也在修改),當(dāng)然,數(shù)字電路也可以進(jìn)行仿真,數(shù)字電路的本質(zhì)還是模擬電路;2、synopsys公司的 Hspice,與spectre一樣的仿真工具,另有些差別。3、Mentor公司的 Modelsim,主要在windows上使用,用于verilog網(wǎng)表的仿真。模擬電路仿真工作流程:在cadence中搭建好仿真環(huán)境,設(shè)置好仿真參數(shù),選用spectre或者h(yuǎn)spice,然后就可以進(jìn)行仿真的。另外,也可以將電路導(dǎo)出成CDL網(wǎng)表,拷貝到Windows上,用Windows版本的Hspice進(jìn)行仿真,這樣做的優(yōu)點(diǎn)是Windows易于操作。另外說明一下spectre和hspice的一項(xiàng)區(qū)別。spectre仿真的時(shí)候會(huì)保存所有電路節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù),這樣做優(yōu)點(diǎn)是方便查看各個(gè)節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù),缺點(diǎn)是仿真消耗的時(shí)間太長,保存的數(shù)據(jù)文件太大,這一點(diǎn)在遇到大型電路的時(shí)候會(huì)很耗時(shí)(不知道最新版本改進(jìn)這一點(diǎn)沒有,鄙人沒有用過最新版的spectre)。hspice仿真之前可以自己選定所要查看的節(jié)點(diǎn),這樣做就可以減少仿真時(shí)間和減小數(shù)據(jù)文件的大小。數(shù)字電路仿真工作流程:在virtuoso schematic中將整理好的電路路中數(shù)字電路部分導(dǎo)出成網(wǎng)表文件,再拷貝到windows系統(tǒng)上進(jìn)行仿真。windows系統(tǒng)上數(shù)字電路網(wǎng)表的仿真采用Modelsim。(這么做的原因是linux系統(tǒng)不太方便)使用Modelsim仿真,最重要的是寫好testbench(貌似這句是廢話)。關(guān)于電路的修改,這部分其實(shí)不好總結(jié),因?yàn)槊恳豢钚酒加胁煌膮?shù),所要修改的地方都不太一樣,我所知道的是,必定要考慮修改的地方往往都是有關(guān)模擬電路的,例如,時(shí)鐘振蕩、復(fù)位電路、開漏輸出管、帶隙等,修改的目的是為了與當(dāng)前所選用的工藝適配,以滿足芯片datasheet的參數(shù)要求。另外,數(shù)字部分的電路其實(shí)一般來說是不需要修改的,但有時(shí)為了節(jié)省版圖面積,會(huì)縮小寄存器管子的尺寸,畢竟縮小一個(gè),就等于縮小了幾十個(gè)。這一階段其實(shí)是一個(gè)不斷的迭代過程,它要和版圖繪制結(jié)合起來,這樣才能夠保證芯片功能和性能的完整。

    六、版圖繪制這部分在電路整理完之后就可以開始進(jìn)行了,并配合電路仿真與修改,逐步晚上版圖的繪制。該階段所使用的主要工具有 1、cadence ic5141的版圖繪制軟件;2、cadence Dracula Diva或者Calibre,這兩個(gè)用于版圖DRC(設(shè)計(jì)規(guī)則檢查)、LVS(版圖一致性檢查);一般而言,calibre會(huì)更加常用一些,畢竟這可是Mentor公司的招牌軟件之一。在版圖繪制好并進(jìn)行各種檢查無誤之后,就可以tapeout,準(zhǔn)備流片了。

    七、測試規(guī)范IC設(shè)計(jì)師在芯片tapeout之后就要準(zhǔn)備制定CP測試規(guī)范了,這是接下來CP測試流程的總綱,非常重要。測試規(guī)范的測試項(xiàng)主要來源于芯片datasheet,將重要的參數(shù)設(shè)置為測試項(xiàng),并規(guī)定參數(shù)的合理分布范圍以及每一個(gè)測試項(xiàng)的測試方法(流程)。這些測試參數(shù)以及測試方法將決定CP測試開發(fā)時(shí)所用到的測試環(huán)境ATE(auto test environment)。

    八、CP測試開發(fā)根據(jù)測試規(guī)范,可以選定所需要的測試工具以進(jìn)行整個(gè)測試環(huán)境的搭建工作。我所知道到用于芯片測試的測試儀有JUNO DTS-1000,ASL1000,V777,STS8200等。每一種測試儀適用于不同種類的芯片測試,測試儀主要分為數(shù)字測試,模擬測試,數(shù)?;旌蠝y試這三大類。CP測試開發(fā)所需要做的工作有:1,測試儀的選擇(ps:這個(gè)階段還要考慮一個(gè)重要的因素就是一次測試多少顆裸芯,也就是CP測試常說的多少個(gè)site,這關(guān)系到后續(xù)測試程序的編寫,以及DUT板的制作,非常重要);2,根據(jù)測試儀開發(fā)測試程序;3,制作測試裸芯片用DUT板,扎PAD位的針由測試廠制作并焊接在DUT上(ps:DUT板有時(shí)候也叫針卡);4,自制測試儀(可選),當(dāng)測試儀并不能完成某些特殊測試項(xiàng)的要求時(shí),還得自己制作測試儀。例如,紅外接收芯片測試所需要用到的掃頻儀,若采用非自制掃頻儀,測試時(shí)間將非常長,必須自己制作。5,測試數(shù)據(jù)的分析。對(duì)測試數(shù)據(jù)的分析有助于對(duì)測試方法的改進(jìn)和對(duì)芯片設(shè)計(jì)的改進(jìn)。CP測試在整個(gè)芯片反向設(shè)計(jì)中占據(jù)著重要位置,所花費(fèi)的人力、物力是非常多的,還需要頻繁和測試廠交流,所以CP測試顯得非常復(fù)雜。在CP測試開發(fā)完之后,會(huì)進(jìn)行COB測試,之后才進(jìn)行CP測試的調(diào)試階段,以及正式批量測試階段。

    九、COB測試所謂COB測試,其實(shí)就是Chip On Board(將裸芯打線在PCB板上或者將封裝好的芯片焊接在PCB上,并將引腳引出),它是在CP測試進(jìn)行之前進(jìn)行的一項(xiàng)測試(也在成品測試之后進(jìn)行),用于初步判斷芯片的功能和性能,如果這批次隨機(jī)采樣的幾顆芯片功能和性能都很爛就暫時(shí)不必進(jìn)行CP測試了。另外,COB測試相比于CP測試具有更多的靈活性,可以測試更多的測試項(xiàng),獲取有關(guān)芯片更為全面的信息。當(dāng)然,COB測試也是需要開發(fā)一套相應(yīng)的測試環(huán)境的。開發(fā)的工作根據(jù)芯片的不同,工作量會(huì)有很大的不同,例如,如果有I2C通信引腳的芯片,需要用到USB轉(zhuǎn)I2C芯片,例如FT232。通過在電腦上編程,通過控制USB轉(zhuǎn)I2C芯片來控制待測芯片。這樣的話,搭建整個(gè)測試環(huán)境就會(huì)比較復(fù)雜。如果是模擬芯片,例如電源管理類芯片,需要使用LabView編程來控制數(shù)字源表進(jìn)行自動(dòng)化參數(shù)測量??傊?,COB測試也是芯片設(shè)計(jì)中一個(gè)比較重要的流程,這部分的工作內(nèi)容,比較難以敘述,簡單的,就用數(shù)字源表測試幾項(xiàng)參數(shù)就行了,復(fù)雜的都會(huì)基于軟件控制的形式進(jìn)行半自動(dòng)的測試。具體說來,1、開發(fā)在PC端開發(fā)測試的程序,例如LabView;2、設(shè)計(jì)測試芯片的電路板,并留下與PC通信的接口,通常采用單片機(jī)做主控芯片;3、搭建測試所需要的環(huán)境,比如說遮光要求。過程敘述得很簡單,但實(shí)際開發(fā)并不容易,難度視待測芯片而異。

    十、成測開發(fā)在CP測試完了之后,裸芯就可以送到成測廠進(jìn)行劃片和封裝了,在這期間,IC設(shè)計(jì)師所要做的工作就是依據(jù)制定成品測試的規(guī)范并進(jìn)行成品測試的開發(fā)。這部分的工作其實(shí)和CP測試的工作是類似的,只不過,相對(duì)于CP測試而言,成品測試的測試項(xiàng)會(huì)少很多。許多CP測試用到的測試項(xiàng),比如,燒調(diào)之類的,成品測試就不會(huì)進(jìn)行了,其余步驟均與CP測試一致。

    十一、可靠性測試當(dāng)芯片封裝好,并通過了成品測試之后,并不意味著芯片的測試就結(jié)束了,還有芯片可靠性測試。在成測結(jié)束,并把樣品返回設(shè)計(jì)師手中之后,設(shè)計(jì)師還需進(jìn)行COB測試,并在這時(shí)預(yù)留幾顆芯片不參與接下來的可靠性測試,這幾顆芯片將在可靠性測試之后作為對(duì)比之用。芯片可靠性測試,是衡量芯片的質(zhì)量和壽命的一項(xiàng)測試。它具體包括環(huán)境測試、EMC測試、其它測試等三大項(xiàng)。細(xì)分項(xiàng)有高溫低溫測試、高溫高濕測試,抗靜電測試等等,全部的測試項(xiàng)可參考IC可靠性測試項(xiàng)目。每一款芯片都有與其對(duì)應(yīng)的可靠性測試項(xiàng),并不是所有測試項(xiàng)目都要測。我們只要關(guān)注與該芯片適配的測試項(xiàng)就行。具體如何決定測試項(xiàng),這需要與芯片的用途有關(guān),每一種用途,它的測試要求都是不一樣的??煽啃詼y試實(shí)驗(yàn)比較簡單,但是,芯片的可靠性卻是由此來衡量的??煽啃詼y試需要的測試工具都比較昂貴,當(dāng)然工具的重復(fù)使用性也是比較好的。每一個(gè)測試項(xiàng)都對(duì)應(yīng)這一套測試設(shè)備。

    十二、成品開發(fā)設(shè)計(jì)出的芯片必須配置相應(yīng)的使用方案,才能將芯片推廣出去,客戶才能夠更好的使用芯片。不同用途的芯片,它的使用方案不一樣,差別也是非常巨大的。像單片機(jī)、ARM、FPGA類芯片,配置的可不是簡單的使用方案,而是一整套使用它的系統(tǒng)。電源管理芯片,需要配置一個(gè)電源管理芯片的一套應(yīng)用方案,并且需要具有一定的競爭力,這才能夠?qū)⑿酒u出去。所以成品開發(fā)是芯片能否賣出去的關(guān)鍵。我所接觸到的成品開發(fā),基本是以單片機(jī)為主控芯片的開發(fā)方案。具體開發(fā)過程將在后續(xù)有更為詳細(xì)的說明。


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